Auflösung bezeichnet die Fähigkeit eines Mess‑, Bildgebungs- oder Simulationsverfahrens, zwei benachbarte Zustände, Objekte oder Größen noch als getrennt zu unterscheiden. Sie ist damit eine zentrale Kenngröße aller analytischen und numerischen Methoden in der Werkstoffforschung.

Man unterscheidet verschiedene Formen der Auflösung:

Räumliche Auflösung beschreibt den minimalen Abstand zweier Strukturdetails, der noch getrennt erfasst werden kann, z. B. bei REM/TEM, FIB‑Tomographie oder Atomsonden-Tomographie. Hohe bzw. „Super‑Auflösung“ zielt auf Sub-Nanometer-Skalen ab, etwa zur Analyse von Grenzflächen oder Ausscheidungen.

Zeitliche Auflösung (z. B. Nanosekunden‑Zeitauflösung) gibt an, wie schnell zeitliche Änderungen, etwa bei Phasenumwandlungen, Rissausbreitung oder dynamischer Verformung, verfolgt werden können.

Spektrale bzw. Massenauflösung ist in spektroskopischen und massenspektrometrischen Verfahren (z. B. ToF‑SIMS, Atomprobe) entscheidend, um benachbarte Massen‑ oder Energieniveaus eindeutig zu trennen und damit chemische Spezies zu identifizieren.

Bildauflösung fasst räumliche und teilweise kontrastbezogene Aspekte in digitalisierten Bildern zusammen, während Störungsauflösung die Fähigkeit beschreibt, kleine Materialfehler oder Gefügestörungen (Poren, Versetzungen, Mikrorisse) zuverlässig zu detektieren.

In der Praxis wird Auflösung häufig durch fundamentale Beugungsgrenzen, Instrumentendesign, Rauschen, Probenpräparation und Auswertealgorithmen limitiert. Eine präzise Angabe der jeweils relevanten Auflösungsart und -metriken ist für die quantitative Interpretation werkstoffwissenschaftlicher Daten essentiell.