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01.10.2024
M. Engstler und F. Mücklich

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Engstler, M. and Mücklich, F.. "FIB/SEM serial sectioning as a versatile tool for microstructural analysis" https://doi.org/10.1515/pm-2024-0076 © 2023 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston, Germany

Zeitschrift

Practical Metallography, vol. 61, no. 11, 2024, pp. 865-878

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