Zur dreidimensionalen Gefügecharakterisierung von Werkstoffen stellt die Rasterelektronenmikroskopie kombiniert mit der Focused Ion Beam-Schnitttechnik ein etabliertes Verfahren dar. In dieser Arbeit wird untersucht, ob sich diese Analysemethode auch zur hochaufgelösten Strukturaufklärung von Bakterienzellen in Interaktion mit Materialoberflächen eignet. Hierbei steht die Abbildung von Zellschädigungsmechanismen bei Bakterien durch antibakterielle Kupferwerkstoffe im Fokus.