Zum Einsatz kam Rasterelektronenmikroskopie (REM) zur Untersuchung amorpher und kristalliner Abscheidungen von Ni-P-, Ni-Sn-P- und Ni-Sn-Cu-P-Legierungssystemen bei 500-, 1000-, 5000-, 10000- und 20000-facher Vergrößerung. Zuerst stellte sich heraus, dass die Morphologie bei den meisten Abscheidungen nur bei 5000-facher Vergrößerung deutlich abzubilden war, einige davon nur mit 10000-facher Vergrößerung. Bei Vergrößerungen kleiner als 1000-fach ist es sehr schwierig, irgendwelche Merkmale zu erkennen. Die Merkmale zeigen blumenkohlähnliche Strukturen, einige sehen aus wie angeordnete Orangen mit nahezu einheitlicher Größe, andere gleichen angeordneten Kartoffeln. Unsere Ergebnisse zeigen auch, dass die Größe dieser Merkmale mit zunehmendem Gehalt an P, Sn+P und Sn+Cu+P in den Abscheidungen abnimmt. Eine Formel bezogen auf Größe und Gehalt konnte erarbeitet werden und zeigt ein umgekehrt proportionales Verhältnis. Die REM-Aufnahmen dieser Abscheidungen weisen darauf hin, dass die Abscheidungen tatsächlich dicht sind und sie dadurch herausragende Eigenschaften erlangen.