
Da die Anforderung einer hohen Randschärfe bei der metallographischen Probenpräparation oft eine Herausforderung darstellt, bieten ver-schiedene im Handel erhältliche Einbettmittel eine Lösung für dieses Problem. Die Leitfähig-keit solcher Produkte ist jedoch nicht ausrei-chend für die Durchführung von Messungen mittels Elektronenrückstreubeugung (EBSD, electron backscatter diffraction), während Pro-dukte mit ausreichender elektrischer Leitfähig-keit oft Einbußen in Bezug auf die Randschärfe mit sich bringen.
Rojacz, H., Premauer, M. and Nevosad, A.. "Conductive and Edge Retaining Embedding Compounds: Influence of Graphite Content in Compounds on Specimen’s SEM and EBSD Performance" Practical Metallography, vol. 58, no. 5, 2021, pp. 236-263. https://doi.org/10.1515/pm-2021-0018 © 2021 Walter de Gruyter GmbH, Berlin/Boston
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