PM Artikel
08.09.2016
Neueste Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie
S. Johansson, J. Moverare, and R. Peng
Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung
Rasterelektronenmikroskop
Anwendungen

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S. Johansson, J. Moverare, and R. Peng (2013). Recent Applications of Scanning Electron Microscopy. Practical Metallography: Vol. 50, No. 12, pp. 810-820. doi: 10.3139/147.110272 © Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG ISSN 0032-678X

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