⌘
F
Toggle theme
DE
Registrieren
ICAA20 (2026)
Poster
MN
Dipl.-Ing. Michael Nackas
Montanuniversität Leoben
Nackas, M. (Speaker); Pogatscher, S.
Montanuniversität Leoben
Aluminium
FIB - Anwendungen in der Materialographie
Probenpräparation
Quantitative Gefügeanalyse
Grenzflächen
Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung
Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)
Intermetallische Phasen
Leichtmetall
Kreislaufwirtschaft und Umweltschutz
Nichteisenmetalle
Materialcharakterisierung & -prüfung
Elektronenrückstreubeugung
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Aluminiumlegierungen
FIB-Probenpräparation
Mikrostruktur Charakterisierung
Fe-reiche intermetallische Phasen
Heterostrukturen
Schrottrecycling
thermomechanische Behandlung
Transmissionselektronenmikroskopie
partikelinduzierte Keimbildung
Abstract
Erwerben Sie einen Zugang, um dieses Dokument anzusehen.
© 2026