MSE 2024
Lecture
24.09.2024
DK
Dennis König (M.Sc.)
Eindhoven University of Technology
König, D. (Speaker)¹; Vermeij, T.²; Maresca, F.³; Hoefnagels, J.¹
¹Technnical University of Eindhoven (Tu/e); ²Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (EMPA), Thun (Switzerland); ³University of Groningen (RUG)
FIB - Anwendungen in der Materialographie
Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung
Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)
Werkstoffverhalten unter mechanischer Beanspruchung
Verformung und Bruch
Stahl und Metalle
Gleitsysteme
FIB-Fräsen
Nano-Zugversuche
in situ-SEM
Zinkbeschichtungen
EBSD-Analysen
metallische Werkstoffe
Nichteisenmetalle
Digitale Bilderkorrelation
Plastische Deformation
Vorschau
19 Min. Untertitel (CC)
Abstract
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