International Conference on System-Integrated Intelligence - SysInt 2025
Lecture
04.06.2025
DK
Dennis Kowalke (M.Sc.)
Leibniz Universität Hannover
Denkena, B.¹; Buhl, H.¹; Nakamura, Y.²; Kowalke, D. (V)¹
¹Leibniz University Hannover, Garbsen; ²Keio University, Garbsen
Funktionswerkstoffe
Aufbau- und Verbindungstechnik
Probenpräparation
Elektronik
Fertigung und Produktionstechnik
Maschinenbau
chemisch-mechanisches Polieren
Sensorintegration
Polieren
automatisierbar
Dehnmessstreifen
Oberflächenrauhigkeit
Präparation
Materialcharakterisierung & -prüfung
Prozess- & Fertigungstechnologien
Stähle
Dünnfilmsensoren
Prozessüberwachung
Oberflächenbearbeitung
Sputterabscheidung
Ultraschall-Bearbeitungsmaschine
Vorschau
22 Min. Untertitel (CC)
Manuskript
Erwerben Sie einen Zugang, um dieses Dokument anzusehen.
Abstract
Erwerben Sie einen Zugang, um dieses Dokument anzusehen.
© 2026