Derselbe Bereich wird mit einem Lichtmikroskop (LOM) und einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) abgebildet. Im Falle des SEM wurden die Bilder mit einem Sekundärelektronendetektor (SE), rückgestreuten Elektronen (BSE) und energiedispersiver Spektroskopie (EDS) aufgenommen. Die grundlegenden Merkmale dieser Techniken an der gegossenen AlSi9Cu3(Fe)-Legierung nach Farbätzung werden vorgestellt.