Der Fortschritt der wissenschaftlichen Forschung und Technologieentwicklung hängt stark von effektiven Bildgebungslösungen zur Charakterisierung der Eigenschaften und des Verhaltens von Materialien ab. Die Darstellung von Details der Mikrostruktur, idealerweise in 3D, ist ein entscheidender Bestandteil dieses Verständnisses, sei es die Entwicklung und Bestätigung von Modellen, die Materialeigenschaften und -verhalten beschreiben, oder die Visualisierung von Strukturdetails. Zeiss bietet 3D-Röntgenmikroskope (XRM) an: fortschrittliche Bildgebungslösungen, die durch kontrastreiche und submikrometergenaue Bildgebung auch bei relativ großen Proben große Hürden für die dreidimensionale Bildgebung genommen haben.

Die zerstörungsfreie Charakteristik der Röntgenmikroskopie ermöglicht eine multiskalige oder multimodale Bildgebung derselben Probe zur Analyse der hierarchischen Strukturen. Zu diesem Zweck stehen zwei Familien von Röntgenmikroskopen zur Verfügung, die in diesem Vortrag vorgestellt werden. Dazu gehören die laborbasierten Röntgenmikroskope Zeiss Xradia Versa und Zeiss Xradia Ultra. Sie bieten die höchste Auflösung für die Untersuchung interner Strukturen bei echten räumlichen Auflösungen im Submikrometerbereich (< 450 nm für Versa) bis in den Nanometerbereich (< 50 nm für Ultra). XRM-Systeme zeichnen sich durch mehrere entscheidende Vorteile aus, darunter die Charakterisierung großer Proben ohne Auflösungsverlust, hoher Kontrast für verbesserte Abbildungsqualität, minimale Probenvorbereitung, die Möglichkeit von in-situ-Experimenten und die Bildgebung in Synchrotronqualität in einem Laborsystem. Darüber hinaus bieten sie hervorragende Kontrastmöglichkeiten durch verschiedene Abbildungsmodi, d. h. (i) Absorption, (ii) Absorptions- und Ausbreitungsphasenkontrast, (iii) Dual-Energie-Scan-Modi und (iv) Beugungskontrasttomographie. Diese einzigartigen Eigenschaften machen beide Familien von Röntgenmikroskopen zu einem leistungsstarken Werkzeug für Anwendungen in einem sehr breiten Spektrum von wissenschaftlichen und industriellen Bereichen. Korrelative Workflows über die gesamte Produktpalette mikroskopischer Systeme von Zeiss werden für die umfassende Multiskalen-Charakterisierung einer großen Anzahl von Proben ermöglicht.