Rietveld‑Verfeinerung ist eine vollständige Profilauswertung von Pulverdiffraktogrammen mittels nichtlinearer Least‑Squares‑Anpassung. Ein physikalisch begründetes Kristall‑ und Instrumentenmodell wird an das gemessene Beugungsprofil angepasst, um Gitterparameter, Atompositionen, Besetzungen, Mikrospannungen, Kristallitgrößen und Phasenanteile zu bestimmen. Sie erlaubt hochgenaue Struktur- und Phasenanalysen komplexer Vielphasen‑Systeme und ist zentral für Gefüge‑ und Defektcharakterisierung in der Werkstoffwissenschaft.