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Mikroskope in der Werkstoffcharakterisierung

Mikroskopische Methoden in der Werkstoffcharakterisierung

Elektronenmikroskope

Elektronenmikroskope nutzen fokussierte Elektronenstrahlen zur hochauflösenden Abbildung und Analyse von Materialien. Raster‑EM liefert topographische und chemische Information über Sekundär‑ und Rückstreuelektronen sowie EDX/EBSD. Transmission‑EM erlaubt atomare Auflösung, Beugungsanalysen und spektroskopische Untersuchungen (EELS, STEM‑EDX). Sie sind zentral für die Aufklärung von Defekten, Phasen, Korngrenzen und Nanostrukturen in der Werkstoffforschung.

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