Elektronenmikroskope nutzen fokussierte Elektronenstrahlen zur hochauflösenden Abbildung und Analyse von Materialien. Raster‑EM liefert topographische und chemische Information über Sekundär‑ und Rückstreuelektronen sowie EDX/EBSD. Transmission‑EM erlaubt atomare Auflösung, Beugungsanalysen und spektroskopische Untersuchungen (EELS, STEM‑EDX). Sie sind zentral für die Aufklärung von Defekten, Phasen, Korngrenzen und Nanostrukturen in der Werkstoffforschung.