Moiré-Muster entstehen durch Überlagerung zweier periodischer Gitter mit geringfügig unterschiedlichen Perioden oder Orientierungen. In der Werkstoffwissenschaft werden sie zur hochsensitiven Messung von Verschiebungs- und Dehnungsfeldern, zur Bestimmung von Gitterfehlpassungen und zur Analyse von 2D-Material-Heterostrukturen eingesetzt. Elektronische Moiré-Techniken (4D-STEM, GPA) ermöglichen subnanometergenaue Kartierung von Verzerrungen und damit die Korrelation lokaler Struktur mit elektronischen und mechanischen Eigenschaften.