Transmissions-Elektronenmikroskopie

Die Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) ermöglicht hochauflösende Untersuchungen von Materialstrukturen auf atomarer Ebene. Ultradünne Proben werden von Elektronen durchstrahlt, wodurch Defekte, Kristallorientierungen und Nanostrukturen sichtbar gemacht werden – essenziell für die detaillierte Materialanalyse.

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