TEM‑Bilder sind zweidimensionale Projektionen eines Elektronenstrahls, der ein ultradünnes Präparat durchdringt, und zeigen atomare bis nanometergroße Strukturen. In der Werkstoffwissenschaft dienen sie zur Analyse von Kristallfehlern, Phasengrenzen, Ausscheidungen und amorphen Domänen; hochauflösende TEM‑Aufnahmen ermöglichen die direkte Abbildung von Gitterstrukturen und Schnittstellenchemie.