4D STEM-Beugung erweitert die Fähigkeiten der Rastertunnel- bzw. Transmissionselektronenmikroskopie, indem sie sowohl räumliche als auch winkelabhängige Daten erfasst. Dadurch werden umfassende Datensätze generiert, die detaillierte Einblicke in die atomare Struktur, Defekte und dynamische Prozesse in modernen Werkstoffen ermöglichen.