Die Schichtdickenmessung ist eine analytische Methode zur Bestimmung der Dicke von Beschichtungen oder dünnen Filmen. Verschiedene Techniken wie Ellipsometrie, Röntgenreflektometrie und optische Interferometrie ermöglichen eine präzise Charakterisierung, was für die Qualitätskontrolle sowie die Entwicklung funktionsspezifischer Schichten entscheidend ist.