TEM-Messungen, durchgeführt mit dem Transmissionselektronenmikroskop, erlauben die Untersuchung von Materialien auf atomarer Ebene. Diese Technik eröffnet detaillierte Einblicke in Kristallstrukturen, Defekte und Nanodomänen und spielt eine entscheidende Rolle in der Werkstoffcharakterisierung.