Dieses Analyseverfahren basiert auf einem induktiv gekoppelten Plasma zur Ionisation in Kombination mit einem Tandemmassenspektrometer. Es ermöglicht die hochsensitive und selektive Erfassung von Spurenelementen in komplexen Proben, indem es Störeinflüsse minimiert. Die Methode findet Anwendung in der Werkstoffanalytik zur präzisen Bestimmung von Elementkonzentrationen und zur Qualitätskontrolle vielfältiger Materialien.