Die X-Ray-Wellenfrontmetrologie nutzt Röntgenstrahlen zur Bestimmung von Phasen- und Amplitudenverteilungen in Wellenfronten. Die Methode ermöglicht die Untersuchung von Materialfehlern und -inhomogenitäten auf Mikroskala, was besonders in der Nanotechnologie und für hochpräzise optische Anwendungen relevant ist.