FIB-SIMS Bildgebung kombiniert den fokussierten Ionenstrahl (FIB) mit der Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) zur hochauflösenden, chemischen Oberflächenanalyse. Dieses Verfahren erlaubt die dreidimensionale Visualisierung von Elementverteilungen und molekularen Strukturen an der Materialoberfläche.