Die Waferanalyse untersucht strukturelle, chemische und elektrische Eigenschaften von Halbleiterwafern. Sie ist entscheidend für die Bewertung der Materialqualität und die Optimierung von Fertigungsprozessen. Analytische Verfahren wie Mikroskopie, Spektroskopie und elektrische Tests liefern umfassende Daten zur Weiterentwicklung der Halbleitertechnologie.