In integrierten TEM Systemen werden Transmissionselektronenmikroskope mit zusätzlichen Analyseverfahren verknüpft, um umfassende Einblicke in Materialmikrostrukturen zu ermöglichen. Diese Ansätze erlauben hochauflösende Untersuchungen von Korngrenzen, Defekten und Phasen, was für die Weiterentwicklung von Werkstoffen essentiell ist.