Die REM-EDX Charakterisierung kombiniert Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie zur Analyse der Oberflächenmorphologie und chemischen Zusammensetzung von Materialien. Dieser multimodale Ansatz ermöglicht es, strukturelle und elementare Eigenschaften auf Mikro- bis Nanoebene korreliert zu untersuchen.