Ein GIWAXS Vergleich beinhaltet die Analyse kristalliner Strukturen in dünnen Filmen unter Verwendung der Grazing Incidence Wide Angle X-Ray Scattering-Technik. Dieser Vergleich liefert detaillierte Informationen über Orientierung, Morphologie und strukturelle Eigenschaften, die für die Materialentwicklung von Bedeutung sind.