DF-TEM Bildgebung nutzt die Dunkelfeld-Technik im Transmissionselektronenmikroskop, um spezifische strukturelle Details oder Phasen in Werkstoffen hervorzuheben. Diese Methode ermöglicht die Visualisierung von Defekten, Korngrenzen und nanoskaligen Inhomogenitäten mit hoher räumlicher Auflösung. Sie unterstützt somit die detaillierte Charakterisierung komplexer Materialstrukturen.