Raster-Elektronenmikroskopie ist ein abbildendes Verfahren, bei dem ein fokussierter Elektronenstrahl zeilenweise über die Probenoberfläche geführt wird. Detektierte Sekundär- und Rückstreuelektronen liefern hochauflösende topografische und chemisch kontrastierte Bilder. In der Werkstoffwissenschaft ermöglicht SEM die Analyse von Mikrostruktur, Korngrenzen, Bruchoberflächen, Phasenverteilung und Defekten sowie, gekoppelt mit EDX/EBSD, lokale Element- und Orientierungsanalysen.