Diese Methode nutzt einen geringen Präzedenzeffekt in der Elektronenbeugung, um dynamische Störgrößen zu reduzieren und so präzisere Kristallorientierungsanalysen in mikroskopischen Untersuchungen zu ermöglichen. Durch Anwendung in der Materialcharakterisierung lassen sich Kristallstrukturen und Texturen detaillierter erfassen.