Nanoskalige Charakterisierung umfasst experimentelle und rechnerische Methoden zur Analyse von Struktur, Chemie und Eigenschaften von Materialien im Bereich <100 nm. Techniken wie TEM, STEM‑EDS/EELS, AFM, STM und Nanoindentierung erlauben die Aufklärung von Korngrenzen, Ausscheidungen, Defekten und lokalen mechanischen, elektrischen oder optischen Eigenschaften. Sie ist essenziell, um Struktur‑Eigenschafts‑Beziehungen in Nanomaterialien und komplexen Werkstoffen gezielt zu steuern.