Die Oberflächenpotentialmessung ist ein analytisches Verfahren zur Erfassung von Schwankungen im elektrischen Potenzial entlang der Materialoberfläche. Diese Methode liefert wichtige Erkenntnisse über Ladungsverteilungen, Unterschiede in der Austrittsarbeit und Defekte, die für die Optimierung des Materialverhaltens in elektronischen Bauteilen und Sensoren von Bedeutung sind.