Identical Location TEM beschreibt eine Methode, bei der exakt derselbe Bereich eines Probenmaterials vor und nach einer Behandlung im Transmissionselektronenmikroskop analysiert wird. Dies liefert präzise Erkenntnisse über Mikrostrukturveränderungen, die für das Verständnis von Materialverhalten und Transformationsprozessen maßgeblich sind.