Die EXAFS-Spektroskopie (Extended X-ray Absorption Fine Structure) ermöglicht die Untersuchung der lokalen atomaren Umgebung eines Absorbers. Diese Technik liefert präzise Informationen über Bindungslängen, Koordinationszahlen und strukturelle Unordnung in nanostrukturierten, amorphen und kristallinen Materialien.