Die Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) ist eine Oberflächenanalysetechnik, die durch Bestrahlung mit Röntgenstrahlen das Emissionsverhalten von Elektronen aus atomaren Orbitalen untersucht. Sie liefert detaillierte Informationen über die chemische Zusammensetzung, Oxidationszustände und elektronische Struktur von Werkstoffen.