SEM-Bilder entstehen durch rasternde Elektronenmikroskopie, bei der ein fokussierter Elektronenstrahl die Probenoberfläche abtastet und rückgestreute oder Sekundärelektronen detektiert. Sie liefern hochauflösende topografische und materialkontrastierende Informationen zur Mikrostruktur, etwa Korngrenzen, Phasen, Ausscheidungen und Defekte. Ergänzt durch EDX/EBSD-Analytik ermöglichen sie eine umfassende Korrelation von Morphologie, Chemie und Kristallographie.