Die mikroskopische Beurteilung umfasst die Analyse von Materialstrukturen und Defekten auf mikro- bis nanoskaliger Ebene. Moderne Techniken wie Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ermöglichen detaillierte Einsichten in Korngrenzen, Phasen und Fehlstellen.