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Rastertransmissionselektronenmikroskopie

Rastertransmissionselektronenmikroskopie verbindet Transmissionselektronenmikroskopie mit einem fein fokussierten, rasternden Elektronenstrahl. Sie ermöglicht ortsaufgelöste Analyse von Kristallstruktur, Orientierungsfeldern, Defekten und chemischer Zusammensetzung im Nanometerbereich mittels Hell- und Dunkelfeldabbildung, STEM-EDS, STEM-EELS und 4D-STEM. Durch hohe Winkelauflösung und Kontrastsensitivität lassen sich Spannungszustände, Phasenfraktionen und Grenzflächenstrukturen quantitativ erfassen.

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