Broad Beam Ion Milling ist ein Abtragungsverfahren, bei dem breit gestreute Ionenstrahlen zur flächendeckenden Materialentfernung eingesetzt werden. Diese Technik erzeugt glatte Probenoberflächen und ist daher besonders wichtig für die Vorbereitung von Materialproben vor Analysen in Rasterelektronenmikroskopen und anderen bildgebenden Verfahren.