Transmissionselektronenmikroskopie ermöglicht die hochauflösende Analyse von Mikrostrukturen, indem Elektronenstrahlen durch dünn präparierte Proben gesendet werden. Diese Technik liefert detaillierte Einblicke in Kristallstrukturen, Fehlstellen und Phasen, was für die Materialcharakterisierung essenziell ist.