Die Elektronenmikroskopie nutzt fokussierte Elektronenstrahlen zur Abbildung feinststrukturierter Proben. Durch verschiedene Verfahren wie Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) oder Rasterelektronenmikroskopie (SEM) können Materialstrukturen auf nano- bis mikroskopischer Ebene detailliert untersucht werden, was zur Charakterisierung von Defekten, Phasen und Grenzflächen beiträgt.