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Mikroskopische Methoden in der Werkstoffcharakterisierung

Scanning in der werkstoffbezogenen Messtechnik und additiven Fertigung

Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie nutzt einen fokussierten Elektronenstrahl, der zeilenweise über die Probenoberfläche geführt wird. Detektierte Sekundär-, Rückstreu- oder charakteristische Röntgenstrahlung liefern hochauflösende Informationen zu Topographie, Zusammensetzung und Kristallorientierung (EBSD). In der Werkstoffwissenschaft ist REM unverzichtbar für Gefügeanalyse, Bruchflächencharakterisierung, Nanostrukturen und korrelative Untersuchungen mit chemischer Mikroanalyse.

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Tribologie Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung Rasterelektronenmikroskopie Präparation EBSD Rasterelektronenmikroskopie Korngröße Gefügedarstellung Polierverfahren Röntgentomographie Porosität Quantitative Gefügeanalyse Grenzflächen Prozess- & Fertigungstechnologien Pulverbettfusion Mikrostrukturcharakterisierung im Rasterelektronenmikroskop (EBSD)Materialcharakterisierung & -prüfung Lichtmikroskopie Wärmebehandlung Rasterelektronenmikroskopie (REM)Eigenspannung Biokompatibilität Lichtmikroskopie Werkstoffverhalten unter mechanischer Beanspruchung Elektronenrückstreubeugung In situ 2D und 3D Charakterisierung Martensittransformation Röntgendiffraktion (XRD)mikrostrukturelle Charakterisierungen Phasentransformation Probenpräparation Oberflächenrauhigkeit metallische Werkstoffe Oberflächenfunktionalisierung Materialermüdung Haftung Funktionswerkstoffe Material- & Werkstoffkenntnisse Porosität

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