⌘
F
Toggle theme
DE
Sign Up
Imaging in der Werkstoffcharakterisierung
Mikroskopische Methoden in der Werkstoffcharakterisierung
Fokussierte Ionenstrahltechnologie
FIB-SEM
Beliebte Inhalte
Vortrag
09.10.2025
Lingnau, L.A. (V)¹; Heermant, J.¹; Brakmann, C.H.¹; Walther, F.¹
59. Metallographie-Tagung 2025 - Materialographie
© 2026