Elektronenmikroskopie nutzt fokussierte Elektronenstrahlen zur hochauflösenden Abbildung und Analyse von Werkstoffen. Rasterelektronenmikroskopie liefert Topographie, Phasenkontrast und chemische Information (EDX, EBSD) im Mikro‑ bis Nanometerbereich. Transmissionselektronenmikroskopie erlaubt atomare Auflösung, Kristallstrukturanalyse, Defektcharakterisierung und Phasenidentifikation. In-situ-Methoden erfassen Gefügeänderungen unter Belastung, Temperatur oder Strahlung. Elektronenmikroskopie ist zentral für das Verständnis von Struktur‑Eigenschafts-Beziehungen in modernen Werkstoffen.