Kristallographische Defekte sind Abweichungen von der idealen periodischen Gitterstruktur und werden nach Dimensionalität in Punktdefekte (Leerstellen, Zwischengitteratome), linienförmige Defekte (Versetzungen) und flächenhafte Defekte (Korngrenzen, Stapelfehler, Phasengrenzen) unterteilt. Sie bestimmen wesentlich Diffusion, Plastizität, Phasenumwandlungen sowie elektrische und optische Eigenschaften und sind daher zentral für das Engineering von Werkstoffeigenschaften.