3. Fachtagung Werkstoffe und Additive Fertigung
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X-ray computed microtomography for additive manufacturing
AW

Dr.-Ing. Anja Waske

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Waske, A. (V)¹; Funk, A.¹; Grunwald, M.¹; Nazarzadehmoafi, M.¹; Pavasaryte, L.¹; Widjaja, M.P.¹
¹Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlin

We present results of X-ray computed microtomography for additive manufacturing obtained with a Zeiss Versa 620 microscope. The samples and manufacturing routes studied are very diverse and range from polymeric test structures as images quality indicators to metallic parts printed under zero gravity.

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