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EWCPS 2025 - 20th European Winter Conference on Plasma Spectrochemistry
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LG
Dr. Lorenz Gfeller
TOFWERK AG
Gfeller, L. (Speaker)¹; Gundlach-Graham, A.¹; Rittner, M.¹; Schweikert, A.¹; Tanner, M.¹
¹TOFWERK AG, Thun (Switzerland)
Materialcharakterisierung & -prüfung
Einzelpartikel-ICP-TOFMS
Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung
Nanopartikelanalyse
Transientereigniserkennung
Laserablation Bildgebung
Abstract
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