Die FIB/SEM Vorbereitung umfasst präzise Techniken zur Probenaufbereitung mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Durch gezieltes Schneiden und Abtragen von Material können Mikrostrukturen und Fehler analysiert werden, was in der Werkstoffcharakterisierung unabdingbar ist.