Die Synchrotron-X-Strahlen-Refraktion ist ein analytisches Verfahren, das die Brechung von synchrotronem Röntgenstrahlen nutzt, um feine Strukturen und Dichtevariationen in heterogenen Werkstoffen aufzudecken. Diese Technik ermöglicht präzise Materialanalysen auf mikroskopischer Ebene.