TEM-Probenlift-out beschreibt den präzisen Prozess zur Entnahme ultradünner Materialproben für die Transmissionselektronenmikroskopie. Mithilfe von Fokussierungs- und Schneidetechniken werden gezielt Bereiche aus dem Bulkmaterial herausgelöst, um detaillierte Mikrostrukturuntersuchungen zu ermöglichen.