Hierbei handelt es sich um eine fortschrittliche Methode der Massenspektrometrie, bei der ein induktiv gekoppeltes Plasma als Ionisierungsquelle dient. Die Tandem-Konfiguration ermöglicht die Eliminierung von Störungen und gewährleistet eine hochpräzise Bestimmung von Spurenelementen in Materialien.